JitaiDe recente investering in een COXEM EM-30AX PLUS heeft een revolutie teweeggebracht in zijn vermogen om ervoor te zorgen dat kwaliteitscontrole het centrale onderdeel is van zijn streven naar een groter marktaandeel.
COXEM's zeer nauwkeurige SEM (Scanning Electron Microscope) is een hulpmiddel dat is ontworpen om oneindig kleine delen van monstermateriaal te observeren.Het kan diepgaande en in focus beelden verkrijgen bij extreem hoge vergrotingsniveaus (tot 150.000x).Een van de vele voordelen van de COXEM EM-30AX PLUS is dat hij gebruik maakt van een elektronenbundel met een korte golflengte.Dit is met name effectief bij het bereiken van een hoge resolutie door de versnellingsspanning, werkafstand en de grootte van de elektronenstraal aan te passen.
De EM-30AX PLUS is een update van de EM30PLus die geavanceerde morfologische analyses mogelijk maakt.Het belangrijkste voordeel van de bijgewerkte versie is dat het de installatie van geminiaturiseerde microanalyse direct in het apparaat mogelijk maakt.Dit geeftJitaihet vermogen om materialen zowel morfologisch als compositorisch te analyseren.De EDS-detector maakt het mogelijk om een ​​problematische plek te lokaliseren of het geheel van de chemische elementen in het monster in kaart te brengen.De EM-30AX Plus is in staat tot een resolutie van 5 nm, wat garandeert dat de kwaliteit kan worden gemicroanalyseerd en dus zelfs op nano-niveau kan worden gegarandeerd.De overvloedige bedrijfsspanning varieert van 1 tot 30 kV.Als zodanig is het breed toepasbaar op het gebied van nanotechnologie, metaalkarakterisering en legeringen, en zal het een grote bijdrage leveren aan:Jitai's meedogenloze streven naar naadloze productiemogelijkheden.